Agitadores orbitales
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Auto SE
El análisis de muestras toma solo unos segundos y proporciona un informe completo
El auto SE es un instrumento con una nueva herramienta de medición de películas delgadas que permite un análisis completamente automático de muestras con solo presionar un botón.
El análisis de muestras toma solo unos segundos y proporciona un informe completo que describe completamente la pila de películas delgadas, incluidos los espesores de las películas, las constantes ópticas, la rugosidad de la superficie y las faltas de homogeneidad de las películas.
El Auto SE es un instrumento con muchas funciones que incluye una etapa XYZ automática, imágenes en tiempo real del sitio de medición y selección automática del tamaño del punto. Hay muchos accesorios disponibles para adaptarse a una amplia gama de aplicaciones. Incluye indicadores de diagnóstico integrados para la detección y diagnóstico automático de problemas, con guía integral del operador para la resolución de problemas.
El Auto SE destaca por su facilidad de uso y sus numerosas funciones automáticas que hicieron del Auto SE un instrumento llave en mano ideal para la medición rutinaria de películas delgadas y el control de calidad de dispositivos.
Las principales aplicaciones son: caracterización de LED y OLED, caracterización de semiconductores.
- Especificaciones: Análisis de películas finas simplificando con rutinas automáticasSistema altamente destacadoVisión de muestraMicropunto hasta 25x60 µmGran variedad de accesoriosRango espectral 440-1000 nmTamaños de punto selección automática 500x500 µm; 250x500 µm; 250x250 µm; 70x250 µm; 100x100 µm; 50x60 µm; 25x60 µmDetección: CCD – Resolución: 2 nmVisualización de muestra: cámara CCD - Campo de visión: 1,33x1 mm – Resolución: 10 µmGoniómetro: Fijo a 70° - Posible configuración a 66° y 61,5°Tiempo de medición: <2s, típico 5sPrecisión: NIST 100 nm d ± 4 Å, n (632,8 nm) ± 0,002Repetibilidad: NIST 15 nm ± 0,2 Å
Cotiza este producto:
Ficha Técnica
| Marca | |
|---|---|
| Aplicaciones | |
| Industrias | Construcción y minería, Energía, Investigación I+D y Biotecnología |
| Especificaciones | Análisis de películas finas simplificando con rutinas automáticas Sistema altamente destacado Visión de muestra Micropunto hasta 25×60 µm Gran variedad de accesorios Rango espectral 440-1000 nm Tamaños de punto selección automática 500×500 µm; 250×500 µm; 250×250 µm; 70×250 µm; 100×100 µm; 50×60 µm; 25×60 µm Detección: CCD – Resolución: 2 nm Visualización de muestra: cámara CCD – Campo de visión: 1,33×1 mm – Resolución: 10 µm Goniómetro: Fijo a 70° – Posible configuración a 66° y 61,5° Tiempo de medición: <2s, típico 5s Precisión: NIST 100 nm d ± 4 Å, n (632,8 nm) ± 0,002 Repetibilidad: NIST 15 nm ± 0,2 Å |
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