LabRam Odyssey Nano
AFM-Raman para imágenes físicas y químicas
Sistema totalmente integrado basado en el microscopio de sonda de barrido de última generación SmartSPM y el micro espectrómetro Raman totalmente automatizado. LabRAM Odyssey Nano ofrece automatización total y compatibilidad versátil con un rendimiento excepcional. Combina facilidad de uso y flexibilidad extrema para las aplicaciones más exigentes. Con capacidades desde UV profundo hasta infrarrojos, alta resolución espectral y un conjunto ampliado de opciones y accesorios, LabRAM Odyssey Nano es ideal para desempeñarse en cualquiera de sus desafíos de investigación.
LabRAM Odyssey Nano tiene una plataforma de análisis de múltiples muestras que permite realizar mediciones a escala macro, micro y nano en la misma plataforma. Operaciones totalmente automatizadas que facilitan el manejo del equipo. Cuenta con una alta resolución espacial y opciones completas de visualización microscópica. Alta eficiencia de recolección por su capacidad de detección Raman oblicua y de arriba hacia abajo para una resolución y un rendimiento óptimos en mediciones co-localizadas y punta mejorada (Raman y fotoluminiscencia). Máximo rendimiento de resolución espectral, múltiples rejillas con cambios automatizados, análisis de amplio rango espectral para Raman y PL.
- Especificaciones: Escáner y base SmartSPM Rango de escaneo de muestra 100 µm x 100 µm x 15 µm (±10%) Tamaño de muestra máximo 40 x 50 mm, 15 de espesor Cabezal AFM Longitud de onda del láser de 1300 nm, sin interferencias con el detector espectroscópico Ruido del sistema de registro hasta < 0,1 nm Modos de medición SPM Microscopía de Fuerza Magnética (MFM); Microscopía de Potencial de Superficie, SKM, KPFM; Microscopía de capacitancia y fuerza eléctrica; Nanolitografía; Nanomanipulación; STM (opcional); Mapeo de Fotocorriente (opcional); Mediciones características de voltios-amperios. Modos espectroscópicos Imágenes y espectroscopía Raman, fluorescencia y fotoluminiscencia Espectroscopía Raman con punta mejorada (TERS) y fotoluminiscencia con punta mejorada (TEPL) en modos AFM, STM y fuerza de corte Microscopía y espectroscopía de barrido óptico de campo cercano (NSOM/SNOM) Espectrómetro Rango de longitud de onda: 50 cm-1 a 4000 cm-1 o hasta 10 cm-1 con el filtro de frecuencia ultrabaja (ULF) Selección de rejillas desde 150 g/mm hasta 3600 g/mm; 2 rejillas en revólver controlada por computador, montadas cinemáticamente y fácilmente intercambiables Fuentes láser Gama completa de longitudes de onda desde DUV (229 nm) hasta IR (hasta 1064 nm) Longitudes de onda típicas de 532 nm, 638 nm y 785 nm
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Ficha Técnica
| Marca | |
|---|---|
| Aplicaciones | Energía, Medicina Forense, Planificar y controlar bioprocesos, Químicos |
| Industrias | Energía, Forense, Investigación I+D y Biotecnología, Medioambiente, Química y farmacéutica |
| Especificaciones | Escáner y base SmartSPM Rango de escaneo de muestra 100 µm x 100 µm x 15 µm (±10%) Tamaño de muestra máximo 40 x 50 mm, 15 de espesor Cabezal AFM Longitud de onda del láser de 1300 nm, sin interferencias con el detector espectroscópico Ruido del sistema de registro hasta < 0,1 nm Modos de medición SPM Microscopía de Fuerza Magnética (MFM); Microscopía de Potencial de Superficie, SKM, KPFM; Microscopía de capacitancia y fuerza eléctrica; Nanolitografía; Nanomanipulación; STM (opcional); Mapeo de Fotocorriente (opcional); Mediciones características de voltios-amperios. Modos espectroscópicos Imágenes y espectroscopía Raman, fluorescencia y fotoluminiscencia Espectroscopía Raman con punta mejorada (TERS) y fotoluminiscencia con punta mejorada (TEPL) en modos AFM, STM y fuerza de corte Microscopía y espectroscopía de barrido óptico de campo cercano (NSOM/SNOM) Espectrómetro Rango de longitud de onda: 50 cm-1 a 4000 cm-1 o hasta 10 cm-1 con el filtro de frecuencia ultrabaja (ULF) Selección de rejillas desde 150 g/mm hasta 3600 g/mm; 2 rejillas en revólver controlada por computador, montadas cinemáticamente y fácilmente intercambiables Fuentes láser Gama completa de longitudes de onda desde DUV (229 nm) hasta IR (hasta 1064 nm) Longitudes de onda típicas de 532 nm, 638 nm y 785 nm |
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