Microscopio de sonda de barrido SignatureSPM

El SignatureSPM de HORIBA es una plataforma avanzada de microscopía de sonda de barrido multimodal diseñada para la caracterización integral de materiales a nanoescala. Este sistema integra un microscopio de fuerza atómica (AFM) completamente automatizado con espectroscopía Raman y fotoluminiscencia, permitiendo realizar mediciones simultáneas y colocalizadas de propiedades topográficas, mecánicas, eléctricas y químicas.

• Microscopía multimodal que integra AFM, espectroscopía Raman y fotoluminiscencia.
• Mediciones colocalizadas de propiedades físicas, químicas y ópticas.
• Caracterización a nanoescala con alta resolución espacial.
• Integración de múltiples modos avanzados de AFM.
• Ideal para nanotecnología, ciencia de materiales y semiconductores.

Plataforma automatizada para análisis reproducible y eficiente.

Gracias a su arquitectura integrada, el SignatureSPM permite correlacionar directamente la topografía de superficie obtenida por AFM con información química y óptica obtenida por Raman, eliminando la necesidad de transferir la muestra entre instrumentos y mejorando significativamente la precisión del análisis.

El sistema soporta múltiples modos avanzados de microscopía de fuerza atómica, incluyendo mediciones de propiedades eléctricas, magnéticas y mecánicas, junto con capacidades espectroscópicas para análisis molecular y caracterización óptica de materiales.

Esta combinación convierte al SignatureSPM en una herramienta ideal para nanotecnología, ciencia de materiales, microelectrónica, semiconductores, investigación en polímeros y desarrollo de nuevos materiales, donde es fundamental comprender la relación entre estructura, propiedades físicas y composición química.

Aplicaciones principales:

• Nanotecnología:
  Estudio de nanomateriales, grafeno y materiales 2D.
• Semiconductores y microelectrónica:
  Análisis de propiedades eléctricas, estrés mecánico y defectos estructurales.
• Ciencia de materiales:
  Caracterización de superficies, fases y propiedades mecánicas de materiales avanzados.
• Polímeros y materiales compuestos:
  Análisis de distribución química y propiedades mecánicas a nanoescala.
• Fotónica y materiales ópticos:
  Estudio de propiedades ópticas mediante fotoluminiscencia y Raman.
• Investigación académica y desarrollo tecnológico:
  Investigación en química, física, nanotecnología y ciencia de materiales.

• Datos Técnicos Principales: - Tipo de equipo: Microscopio de sonda de barrido multimodal (SPM / AFM). - Tamaño de escaneo AFM: hasta 90 µm × 90 µm. - Resolución vertical: < 0.1 nm. - Modos AFM disponibles: Tapping Mode Contact Mode Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM) Magnetic Force Microscopy (MFM) Piezo Response Force Microscopy (PFM) Force Spectroscopy - Integración espectroscópica: Espectroscopía Raman Fotoluminiscencia (PL) - Software: Plataforma integrada para correlación AFM-Raman y análisis multimodal.