XploRA Nano
AFM-Raman para imágenes físicas y químicas
Sistema totalmente integrado basado en el microscopio de sonda de barrido SmartSPM de última generación y el micro espectrómetro XploRA Raman. Compacto, totalmente automatizado y fácil de usar, XploRA Nano concentra el poder de AFM-Raman en un paquete asequible, pero con todas las funciones, lo que hace que las imágenes TERS sean en realidad para todos.
Se pueden realizar mediciones a escala macro, micro y nano en la misma plataforma. Operaciones totalmente automatizadas, mediciones completadas en minutos. Alta resolución espacial, etapas de mapeo automatizadas, opciones completas de visualización microscópica. Detección Raman oblicua, de arriba hacia abajo para una resolución y rendimientos óptimos en ambas mediciones co-localizadas y con punta mejorada (tip-enhanced) para Raman y fotoluminiscencia. XploRA Nano tiene máximo rendimiento de resolución espectral, múltiples rejillas con cambio automatizado, análisis de amplio rango espectral para Raman y PL. Resolución espectroscópica a nanoescala (hasta 10 nm) mediante punta mejorada. Numerosos modos SPM, incluidos AFM, modos conductivos y eléctricos (cAFM, KPFM), STM, celdas líquidas y entorno electroquímico, junto con mapeo químico a través de TERS/TEPL. Control total de los 2 instrumentos a través de una estación de trabajo y un potente control de software. El SPM y el espectrómetro se pueden operar de forma simultánea o independiente. XploRA Nano es un equipo robusto y estable, ya que tiene un funcionamiento alejado de ruidos.
- Especificaciones: Scanner y Base SmartSPM Rango de escaneo de muestras: 100 µm x 100 µm x 15 µm (±10%) Tamaño de muestra: Máximo 40 x 50 mm, 15 mm de espesor Posicionamiento de muestras: Rango de posicionamiento de muestras motorizado 5 x 5 mm Resolución de posicionamiento: 1 µm Cabezal AFM Longitud de onda del láser: 1300 nm, sin interferencias con el detector espectroscópico Acceso a la sonda: Acceso gratuito a la sonda para manipuladores externo y sondas adicionales Modos de medición SPM Microscopía de Fuerza Magnética (MFM); Microscopía de Potencial de Superficie, SKM, KPFM; Microscopía de capacitancia y fuerza eléctrica; Nanolitografía; Nanomanipulación; STM (opcional); Mapeo de Fotocorriente (opcional); Mediciones características de voltios-amperios. Modos espectroscópicos Imágenes y espectroscopía Raman, fluorescencia y fotoluminiscencia Espectroscopía Raman con punta mejorada (TERS) y fotoluminiscencia con punta mejorada (TEPL) en modos AFM, STM y fuerza de corte Microscopía y espectroscopía de barrido óptico de campo cercano (NSOM/SNOM) Espectrómetro Micro espectrómetros compactos XploRA Plus totalmente automatizados, funcionales como microscopios micro Raman independientes Rango de longitud de onda 60 cm-1 a 4000 cm-1 4 rejillas sobre torreta controlada por computador (600, 1200, 1800 y 2400 g/mm) Fuentes láser Longitud de onda típica: 532 nm, 638 nm y 785 nm
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Ficha Técnica
| Marca | |
|---|---|
| Aplicaciones | |
| Industrias | Construcción y minería, Energía, Investigación I+D y Biotecnología, Medioambiente, Química y farmacéutica |
| Especificaciones | Scanner y Base SmartSPM Rango de escaneo de muestras: 100 µm x 100 µm x 15 µm (±10%) Tamaño de muestra: Máximo 40 x 50 mm, 15 mm de espesor Posicionamiento de muestras: Rango de posicionamiento de muestras motorizado 5 x 5 mm Resolución de posicionamiento: 1 µm Cabezal AFM Longitud de onda del láser: 1300 nm, sin interferencias con el detector espectroscópico Acceso a la sonda: Acceso gratuito a la sonda para manipuladores externo y sondas adicionales Modos de medición SPM Microscopía de Fuerza Magnética (MFM); Microscopía de Potencial de Superficie, SKM, KPFM; Microscopía de capacitancia y fuerza eléctrica; Nanolitografía; Nanomanipulación; STM (opcional); Mapeo de Fotocorriente (opcional); Mediciones características de voltios-amperios. Modos espectroscópicos Imágenes y espectroscopía Raman, fluorescencia y fotoluminiscencia Espectroscopía Raman con punta mejorada (TERS) y fotoluminiscencia con punta mejorada (TEPL) en modos AFM, STM y fuerza de corte Microscopía y espectroscopía de barrido óptico de campo cercano (NSOM/SNOM) Espectrómetro Micro espectrómetros compactos XploRA Plus totalmente automatizados, funcionales como microscopios micro Raman independientes Rango de longitud de onda 60 cm-1 a 4000 cm-1 4 rejillas sobre torreta controlada por computador (600, 1200, 1800 y 2400 g/mm) Fuentes láser Longitud de onda típica: 532 nm, 638 nm y 785 nm |
Recursos y descargas
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