LabRAM Soleil Nano
Nanoscopia correlativa directa y en tiempo real
Sistema totalmente integrado basado en nuestro microscopio de sonda de barrido OmegaScope y el microscopio LabRAM Soleil Raman. LabRAM Soleil Nano ofrece capacidades para mediciones directas de fotoluminiscencia y AFM-Raman colocalizadas. Los modos de imágenes AFM (topográficos, eléctricos, mecánicos, etc.) y la adquisición Raman se puede realizar de forma secuencial o simultánea en la misma ubicación de la superficie de la muestra. La nano-resolución óptica también se puede lograr con fotoluminiscencia y espectroscopia Raman con punta mejorada (TERS/TEPL). LabRAM Soleil Nano es compatible con la cámara ambiental para mediciones AFM y Raman en atmósfera controlada y a bajas temperaturas.
Control total de la adquisición a través de una estación de trabajo y un potente software de control. Los microscopios SPM y Raman/PL se pueden operar de forma simultánea o independiente. Plataforma acromática UV-VIS-NIR multimodal de alto rendimiento. Diseñado para Raman, fotoluminiscencia, electroluminiscencia y más. Hasta 4 láseres internos y 6 filtros diferentes; torreta de 4 rejillas de difracción.
Operaciones totalmente automatizadas, ¡comience a medir en minutos!
- Especificaciones: Escáner y base SmartSPM Rango de escaneo de muestra 100 µm x 100 µm x 15 µm (±10%) Tamaño de muestra máximo 40 x 50 mm, 15 de espesor Cabezal AFM Longitud de onda del láser de 1300 nm, sin interferencias con el detector espectroscópico Ruido del sistema de registro hasta < 0,1 nm Modos de medición SPM Microscopía de Fuerza Magnética (MFM); Microscopía de Potencial de Superficie, SKM, KPFM; Microscopía de capacitancia y fuerza eléctrica; Nanolitografía; Nanomanipulación; STM (opcional); Mapeo de Fotocorriente (opcional); Mediciones características de voltios-amperios. Modos espectroscópicos Imágenes y espectroscopía Raman, fluorescencia y fotoluminiscencia Espectroscopía Raman con punta mejorada (TERS) y fotoluminiscencia con punta mejorada (TEPL) en modos AFM, STM y fuerza de corte Microscopía y espectroscopía de barrido óptico de campo cercano (NSOM/SNOM) Opciones Celda líquida / celda electroquímica Control de temperatura para celda: calentamiento hasta 60°C Cámara ambiental Sistema de control de humedad: Rango de humedad relativa 10 - 85 % / Estabilidad de humedad relativa ±1% Módulo de Calefacción Refrigeración: -50°C a +100°C Módulo de Calefacción: Calentamiento hasta 300°C / Estabilidad de temperatura 0,1°C o calentamiento hasta 150°C / Estabilidad de temperatura 0,01°C
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Ficha Técnica
| Marca | |
|---|---|
| Aplicaciones | |
| Industrias | Energía, Investigación I+D y Biotecnología, Medioambiente, Química y farmacéutica |
| Especificaciones | Escáner y base SmartSPM Rango de escaneo de muestra 100 µm x 100 µm x 15 µm (±10%) Tamaño de muestra máximo 40 x 50 mm, 15 de espesor Cabezal AFM Longitud de onda del láser de 1300 nm, sin interferencias con el detector espectroscópico Ruido del sistema de registro hasta < 0,1 nm Modos de medición SPM Microscopía de Fuerza Magnética (MFM); Microscopía de Potencial de Superficie, SKM, KPFM; Microscopía de capacitancia y fuerza eléctrica; Nanolitografía; Nanomanipulación; STM (opcional); Mapeo de Fotocorriente (opcional); Mediciones características de voltios-amperios. Modos espectroscópicos Imágenes y espectroscopía Raman, fluorescencia y fotoluminiscencia Espectroscopía Raman con punta mejorada (TERS) y fotoluminiscencia con punta mejorada (TEPL) en modos AFM, STM y fuerza de corte Microscopía y espectroscopía de barrido óptico de campo cercano (NSOM/SNOM) Opciones Celda líquida / celda electroquímica Control de temperatura para celda: calentamiento hasta 60°C Cámara ambiental Sistema de control de humedad: Rango de humedad relativa 10 – 85 % / Estabilidad de humedad relativa ±1% Módulo de Calefacción Refrigeración: -50°C a +100°C Módulo de Calefacción: Calentamiento hasta 300°C / Estabilidad de temperatura 0,1°C o calentamiento hasta 150°C / Estabilidad de temperatura 0,01°C |
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